1. Fault-tolerance and reliability techniques for high-density random-access memories
پدیدآورنده: Chakraborty, Kanad
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع: ، Random access memory-- Reliability,، Integrated circuits-- Fault tolerance,، Semiconeductor storage devices
رده :
TK
7895
.
M4
.
C44
2002
2. Fault-tolerance and reliability techniques for high-density random-access memories
پدیدآورنده: Chakraborty, Kanad
کتابخانه: کتابخانه پژوهشگاه دانشهای بنیادی (تهران)
موضوع: Reliability ، Random access memory,، Integrated circuits -- Fault tolerance,، Semiconductor storage devices
رده :
TK
7895
.
M4C44
3. Fault-tolerance and reliability techniques for high-density random-access memories
پدیدآورنده: / Kanad Chakraborty, Pinaki Mazumder
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکدههای فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Random access memory -- Reliability,Integrated circuits -- Fault tolerance,Semiconductor storage devices
رده :
TK
7895
.
M4C44
4. Fault-tolerance and reliability techniques for high-density random-access memories
پدیدآورنده: / Kanad Chakraborty , Pinaki Mazumder
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکدههای فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Random access memory -- Reliability,Integrated circuits -- Fault tolerance,Semiconductor storage devices
رده :
TK
7895
.
M4C44
2002